2021赛默斐视SIMVISION光学薄膜瑕疵检测仪获广泛关注
2021年11月08日
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导读：当前，光学薄膜瑕疵检测设备的研发在市场上仍处于萌芽阶段。光学薄膜需要超微细加工，精度极高，一般质检中采用人眼检测、抽检容易出现漏检的问题，从而无法保证光学薄膜厂家们的品质要求。
在表面瑕疵检测领域中，在检测方面还是小有名气，公司在机器视觉检测领域一步一个脚印，现赛默斐视表面瑕疵检测系统已在带钢、薄膜、造纸、印刷、金属带材等行业成功应用。
赛默斐视光学薄膜瑕疵检测仪检测方法如下：
针对透光率高的薄膜材料，系统采用透射的打光检测方式进行检测，即光源在薄膜的下方，相机在薄膜的上方进行图像拍摄。产线运行时，系统通过编码器实时的采集产线运行状态信息并开始检测，系统将相机采集到的图像通过图像分析软件进行瑕疵处理，由于瑕疵与正常产品的图像在灰阶上存在明显差异，从而使得系统能够发现瑕疵，并通过进一步的计算、分析来确定瑕疵的大小、位置、类型等信息。
赛默斐视光学薄膜瑕疵检测仪特点：
1、该品种经过多次的测试，可检测常见缺陷，检测率高.
2、能提高降等率，降级索赔率，经济效益高。以电子布为例，产量为168万米/台，总降等率为5%，GCVision拦截率为60%.
3、所有疵点进行有效记录并自动保存相关图片.
4、自动形成疵点统计报表.
5、侦测到疵点时，可根据要求进行相应的动作(记录、报警、停机等).
6、显示疵点的具体经纬位置和图片，形成疵点地图，为后期开裁提供基础数据.
7、历史记录追溯：每卷布的各类信息可保存，可追溯。
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